软片的基线和厚度测量

更新时间：2013-12-09

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软片的基线和厚度测量

软片的基线和厚度测量
应用范围：测量隐形眼镜的基准曲线和厚度
技术背景：
在20世纪70年代，我们开发出了检测隐形眼镜的开云备用地址，采用开云备用地址可以测量用于基准曲线计算的隐形眼镜的矢量高度，以及镜片的厚度，不会出现采用其他技术会使镜头产生物理失真的错误，超声波测量速度快，可持续进行，性能可靠，而且不用操作人员进行任何解释说明，的38DLP型测厚仪加载了特殊的软件，结合基准曲线的计算，可以同时测量矢量高度和厚度。
使用设备：
测厚仪：38DLP型
探头：M316-SU F=0.75（20MHZ，0.125in元直径）
夹具：B-200型隐形眼镜夹具或同等设备
注意：也可以使用35型或35DL型矢测厚仪来测量矢量高度或镜片厚度，但这些仪器一次只能进行一种类型的测量，并且不会自动计算基准曲线。